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ACCRETECH東京精密Opt-scope測量機

簡要描述:

ACCRETECH東京精密Opt-scope測量機
表面粗糙度/形狀測量機Opt-scope,Opt-measure,DISTAX;光軸形狀測量機Shaftcom C

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表面粗糙度/形狀測量機Opt-scope,Opt-measure,DISTAX;光軸形狀測量機Shaftcom C

表面粗糙度/形狀測量機Opt-scope特征:焦距變化測量功能基于全聚焦圖像顯微鏡,這是國際标準ISO 25178-6:2010中(zhōng)定義爲三維表面特性的測量方法,包括陡傾角,白(bái)光幹涉法難以實現,是可以進行毫米級形狀測量的選件。通過将此功能與普通白(bái)光幹涉測量一(yī)起使用,單個Opt-scope可以滿足更多樣化的測量需求。

3D白(bái)光幹涉顯微鏡Opt-scope與鏡頭倍率無關,在垂直方向上具有0.01nm的高分(fēn)辨率,并且可以用低倍率鏡頭測量納米表面特性,因此可以在高倍率下(xià)測量大(dà)範圍一(yī)次射擊的速度。它以高再現性測量亞納米表面粗糙度、透明物(wù)體(tǐ)和高縱橫比結構,這些是激光顯微鏡和其他非接觸測量原理難以測量的。

Opt-measure是一(yī)種使用新光源和幹涉測量法的非接觸式位移傳感器。采用新光源和新幹涉儀。由于使用來自粗糙表面的散射光進行測量,因此不需要反射鏡或角錐。它可以在直接反射中(zhōng)測量。9-4.png

标準配備16通道傳感器。傳感器和控制器之間的電纜最長可延長1,000 m。适用于測量實驗設備多點位移的目的。

線性度:±1μm和重複性():0.1μm是通過采用新的幹涉方法來實現的。

溫度穩定的光學單元可抑制溫度漂移。在2030°C的現場環境中(zhōng)實現精度。±0.9微米@25 ±5°C

DISTAX特征:使用DISTAX,通過用光纖連接激光光源和幹涉儀,可以調整“幹涉儀"和“反射器"的兩個位置。除了易于設置之外(wài),良好的操控性也得到了極大(dà)的改善。此外(wài),通過使用光纖,幹涉儀可以獨立于光源移動。

DISTAX用軟件自動控制激光射出方向切換、機床工(gōng)作台、主軸運動。通過與機床 NC 通信,從各軸的測量開(kāi)始到校正輸入和最終檢查的過程自動進行。

光軸形狀測量機Shaftcom C系列特征:

線掃描相機和7500像素圖像傳感器提供高速測量和高分(fēn)辨率。相機還支持IP52防水/防塵标準,并提供内置PC的型号。堅固且耐環境的設計。

Shaftcom軸測量系統可選擇配備接觸式探頭系統。接觸式測量可以與光學測量無縫集成,适用于跳動、鍵槽和孔輪廓測量等應用。這些添加的多個評估項目也可以在一(yī)次測量中(zhōng)進行評估,提供了高度的測量靈活性。


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