分(fēn)光計器PF-200光譜儀測量設備bunkoukeiki 光澤度儀

分(fēn)光計器PF-200光譜儀測量設備bunkoukeiki

分(fēn)光計器PF-200光譜儀測量設備bunkoukeiki

PF-200棱鏡預置光譜儀

可安裝在光譜儀（聚氯儀表）等入射部的棱鏡前置光譜儀

特點：

是在紫外(wài)線光譜學、SFG光譜學等的測量中(zhōng)，高效率、低迷光的前置光譜儀。

通過采用棱鏡代替濾鏡，一(yī)台可以使用多波長。

比起購買多張過濾器無法應對的紫外(wài)線領域的測定和過濾器，可以以更便宜的價格構建系統，這是有好處的。

由于棱鏡是可以交換的構造，所以可以配合紫外(wài)線、可見光等波長領域，進行高效率的選擇。還可以将棱鏡換成平面鏡，作爲非分(fēn)散直通光學系統使用。

與各種測量用分(fēn)光鏡的連接（高度調整等）也可通過選項等進行對應。

規格：

光學布置 利特勒色散棱鏡光學系統

焦距 200ｍm

口徑比 F=6

分(fēn)散元件 三棱鏡

出射狹縫 寬度：0～4mm（雙開(kāi)對稱連續可變・讀取最小(xiǎo)刻度0.01mm）

高度光圈 連續可變V型光圈1～10mm

機械波長範圍 紫外(wài)線棱鏡：190～400nm

可見棱鏡：360～600nm

波長顯示

檢測線波長轉換驅動方式*不是直接波長顯示。

波長驅動 手柄手動驅動方式

M25-D雙單色儀表

小(xiǎo)型、低迷光、高分(fēn)辨率的雙單色器。

于高精度光譜測量，如拉曼-光子發光/熒光測光、各種檢測器的光譜響應度測量等。可以選擇加分(fēn)散型和零分(fēn)散型。

由于光學配置采用了本公司的變形工(gōng)具，多重衍射産生(shēng)的迷光變得極小(xiǎo)。

特點：

因爲是像差少的光學系統，所以可以在各波長上獲得對稱性好的光譜。

不僅可以簡單地交換衍射光栅，而且交換再現性也很好±0.1mm以内）可以作爲寬帶分(fēn)光器（單色器）使用200nm～25μｍ）

因爲可以清除氮，所以在紅外(wài)區域也可以使用。

采用有效面積大(dà)的衍射光栅，光學系統爲F=4.3，亮度明亮，像差少，因此在各波長上出射光的對稱性優異，可獲得更高的分(fēn)辨率（0.03nm）。

由于機構、操作簡單且堅固，耐沖擊・振動，而且幾乎沒有狹縫機構的後進，所以可以進行高精度的測量。

因爲入・出射狹縫被配置在相反一(yī)側，所以容易組合其他光學系統和特别附屬品，制作符合使用目的的光譜系統。

通過安裝步進馬達波長驅動裝置（選配件），可通過外(wài)部脈沖信号或GP-IB進行控制。

規格：光學系統式 不對稱變形

焦距 250ｍm

口徑比 F=4.3

衍射光栅 刻線有效面積52×52mm

光學波長範圍 250～930nm

機械波長範圍 0～930nm

分(fēn)辨率 0.03nm（半幅）

波長掃描方式 正弦機構·波長線性掃描

波長驅動方式（可選） 步進馬達驅動

波長精度 ±0.1nm（從順方向設置）

波長顯示 計數器顯示最小(xiǎo)1nm，最小(xiǎo)刻度0.05nm

波長再現性 ±0.05nm

迷光 1×10-9以下(xià)（λ0=632.8nm時λ0±在5nm處）

出射狹縫 寬度：0～4mm（雙開(kāi)對稱連續可變・讀取最小(xiǎo)刻度0.01mm）

過濾器 手動滑動方式（最多可安裝6種）*紫外(wài)線、紅外(wài)線可選擇