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正規銷售hitachi日立掃描電子顯微鏡

簡要描述:

正規銷售hitachi日立掃描電子顯微鏡
隻有45厘米寬的緊湊型設計,實現了4.0 nm的分(fēn)辨率。全新開(kāi)發的用戶界面和電子光學系統,使性能大(dà)幅提升。

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保定今朝園商貿有限公司

胡經理

正規銷售hitachi日立掃描電子顯微鏡

正規銷售hitachi日立掃描電子顯微鏡

  • 緊湊型設計,分(fēn)辨率爲4 nm*1
  • 通過高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實現低加速電壓/低真空下(xià)高質量圖像觀察
  • 操作簡捷,即使新手也能拍出高質量的圖片
  • 新開(kāi)發的導航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野
  • 大(dà)窗口(30 mm2)SDD能譜系統,便于快速分(fēn)析元素成分(fēn)
項目内容
分(fēn)解能*34.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式)
15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式)
5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式)
加速電壓0.3 kV ~ 20 kV
放(fàng)大(dà)倍率6× ~ 300,000× (底片倍率)
16× ~ 800,000× (顯示倍率)
低真空模式真空範圍:6 ~ 100 Pa
電子槍預對中(zhōng)鎢燈絲
樣品台3-軸自動馬達台
X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm
R:360°, T:-15° ~ +90°
大(dà)樣品尺寸直徑80 mm
大(dà)樣品高度40 mm
尺寸主機:450(W) x 640(D) x 670(H) mm
供電單元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm
探測器選配
  • 高靈敏度低真空二次電子探測器(UVD)
  • 能量分(fēn)散型X線探測器(EDS)

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